イネは,花粉を発達させる時期に
低温に遭遇すると障害型冷害を生じ、
低温により花粉が正常に発達できずに
植物が種子を生じない現象である
「不稔（ふねん）」という状態になってしまいます。
北海道大学の研究グループは、
80年間定説とされてきたイネの冷害が
起こる仕組みとして、イネの低温による花粉稔性の低下と雄しべの先の、花粉が入った袋である葯（やく）のタペート層(花粉と接する細胞層)の肥大の相関関係を見直すため、実験を行いました。
低温に対する感受性が異なる13品種の
イネの穂ばらみ期に4日間の12℃の
低温処理を行った後、処理直後と
開花期に葯を採取して横断面を観察。
低温処理が葯の内部形態や花粉稔性、
花粉数に及ぼす影響を解剖学的に
評価したそうです。
その結果、わかったこととは？
詳しくはリンク記事でご確認ください。
情報源: 【プレスリリース】「イネの冷害が起こる仕組み」の定説を覆した！～低温による葯の構造異常と花粉不稔の関係に直接の因果関係はないことが判明～ | 日本の研究.com
[PR]